
纳米颗粒跟踪分析技术是一门可在材料科学、生物医学、环境工程等多学科交叉领域实现广泛应用的高新技术,在纳米材料研发、生物标志物检测、污染物监测等科研与应用场景中具备极大发展潜力的先进分析技术。传统纳米颗粒表征方法常存在分辨率不足、无法同时获取尺寸与浓度信息等局限,而纳米颗粒跟踪分析技术凭借单颗粒追踪原理,可实现对纳米尺度颗粒的精准表征,且能有效排除背景干扰、保障数据的真实性与可靠性,已成为纳米科技领域不可或缺的核心分析工具之一。
HT-MRSNTA系列纳米颗粒跟踪分析仪,采用半导体激光光源与高灵敏度 CMOS 探测器组合设计,搭载动态追踪算法与实时数据处理模块,确保粒径检测范围覆盖 20-1000 nm,浓度检测下限低至 106 particles/mL,同时具备优异的长期稳定性。配套智能化分析软件,支持颗粒尺寸分布、浓度定量及分散性评估等多功能分析,无需复杂样品前处理,操作便捷高效,适合纳米材料表征、生物纳米颗粒(如外泌体)分析、环境微塑料检测等科研工作。
产品特点:
•纳米颗粒跟踪分析技术测量粒径,测量范围覆盖20nm-1um
•显微镜法进行Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性
•提供405, 488, 520, 532, 640nm等激光器,其他波段支持定制
•激光器采用快速拔插式设计
•采用高灵敏度CMOS相机,最大帧率可达100fps
•独创的激光光源、照明光及参考光的一体化及光纤分束技术
•温度调整范围可达15℃~80℃,精度±0.1℃
•新一代高速数字相关器,动态范围大于1011

产品优势
制样简单,无需复杂前处理
颗粒粒径范围:20-1000 nm
可同时得到样品的粒径与浓度信息
支持荧光NTA模式,用于荧光纯度检测
可视化实时测试,快速得到数据
样品池易于拆卸清洗
搭配全新智能化算法,粒径计算更加准确
符合ASTM E2834-12,ISO 13099-1,2,3标准
产品原理


